探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。

探針臺(tái)的功能都有哪些？

1.集成電路失效分析

2.晶圓可靠性認(rèn)證

3.元器件特性量測(cè)

4.塑性過程測(cè)試(材料特性分析)

5.制程監(jiān)控

6.IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試

7.液晶面板的特性測(cè)試

8.印刷線路板的電性測(cè)試

9.低噪音/低電流測(cè)試

10.微波量測(cè)(高頻)

11.太陽(yáng)能電池領(lǐng)域檢測(cè)分析

12.發(fā)光二極管領(lǐng)域檢測(cè)分析

13. 納米器件結(jié)構(gòu)測(cè)試