探針臺為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測，適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。

根據測試樣品分類：晶圓測試、LED測試、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、太陽能電池片測試、材料表面電阻率測試。

根據應用分類：射頻測試、高溫環境測試、低電流（100fA *）測試、I-v/c-v/p-iv測試、高壓，大電流測試、磁場環境測試、輻射環境測試、積分球測試。